Overview of light emitting diodes: Reliability estimation from the junction to the packaging - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Overview of light emitting diodes: Reliability estimation from the junction to the packaging

Yannick Deshayes
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 841114
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Laurent Béchou
  • Fonction : Auteur
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Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Yves Ousten
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Laboratoire de l'intégration, du matériau au système

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Optique / photonique

Yannick Deshayes  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01223382

Soumis le : lundi 2 novembre 2015-15:33:31

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

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Dates et versions

hal-01223382 , version 1 (02-11-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01223382 , version 1

Citer

Yannick Deshayes, Laurent Béchou, Yves Ousten. Overview of light emitting diodes: Reliability estimation from the junction to the packaging. INTERCONEX 2009 - IMAPS FRANCE, Apr 2009, Paris, France. ⟨hal-01223382⟩

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