The Smaller the Noisier? Low Frequency Noise Diagnostics of Advanced Semiconductor Devices - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015

The Smaller the Noisier? Low Frequency Noise Diagnostics of Advanced Semiconductor Devices

Cor Claeys
  • Fonction : Auteur
E. Simoen
  • Fonction : Auteur
M. Aoulaiche
  • Fonction : Auteur
Bogdan Cretu
W Fang
  • Fonction : Auteur
R Rooyackers
  • Fonction : Auteur
A. Vandooren
  • Fonction : Auteur
A. Veloso
  • Fonction : Auteur
N. Collaert
  • Fonction : Auteur
A Thean
  • Fonction : Auteur

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01196563 , version 1 (10-09-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01196563 , version 1

Citer

Cor Claeys, E. Simoen, P.G.D Agopian, J.A. Martino, M. Aoulaiche, et al.. The Smaller the Noisier? Low Frequency Noise Diagnostics of Advanced Semiconductor Devices. 30th Symp on Microelectronics Technology and Device, Aug 2015, Salvador Bahia, Brazil. ⟨hal-01196563⟩
44 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More