Characterization and model of temperature effect on the conducted immunity of Op. Amp - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2015
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01180983 , version 1 (28-07-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01180983 , version 1

Citer

Tristan Dubois, Siham Hairoud, Marcio Gomes de Oliveira, Helene Frémont, Genevieve Duchamp. Characterization and model of temperature effect on the conducted immunity of Op. Amp. Microelectronics Reliability, 2015. ⟨hal-01180983⟩
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