Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2015
Genevieve Duchamp : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01180983
Soumis le : mardi 28 juillet 2015-16:24:44
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01180983 , version 1
Citer
Tristan Dubois, Siham Hairoud, Marcio Gomes de Oliveira, Helene Frémont, Genevieve Duchamp. Characterization and model of temperature effect on the conducted immunity of Op. Amp. Microelectronics Reliability, 2015. ⟨hal-01180983⟩
Collections
64
Consultations
0
Téléchargements