Refined Characterization Up to Millimeter Waves of Ferroelectric KTN Thin Film for Efficient Integrated Tunable Devices - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue ECS Transactions Année : 2013

Refined Characterization Up to Millimeter Waves of Ferroelectric KTN Thin Film for Efficient Integrated Tunable Devices

G. Houzet
T. Lacrevaz
C. Bermond
A. Le Febvrier
  • Fonction : Auteur
S. Deputier
Maryline Guilloux-Viry
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 848832
Patrick Queffelec
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 842617
B. Flechet
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01122418 , version 1 (03-03-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01122418 , version 1

Citer

G. Houzet, T. Lacrevaz, C. Bermond, A. Le Febvrier, S. Deputier, et al.. Refined Characterization Up to Millimeter Waves of Ferroelectric KTN Thin Film for Efficient Integrated Tunable Devices. ECS Transactions, 2013, 58, pp.237-242. ⟨hal-01122418⟩
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