Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
Année : 2014
Yvan Duroc : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01070867
Soumis le : jeudi 2 octobre 2014-15:40:08
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:32:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01070867 , version 1
Citer
Gianfranco Andia Vera, Yvan Duroc, Smail Tedjini. RFID Test Platform: Non-linear Characterization. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2014, 63 (9), pp.2299-2305. ⟨hal-01070867⟩
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