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Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement Année : 2014

RFID Test Platform: Non-linear Characterization

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01070867 , version 1 (02-10-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01070867 , version 1

Citer

Gianfranco Andia Vera, Yvan Duroc, Smail Tedjini. RFID Test Platform: Non-linear Characterization. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2014, 63 (9), pp.2299-2305. ⟨hal-01070867⟩

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