Structural properties of Ge/Si(001) nano-islands by diffraction anomalous fine structure and multiwavelength anomalous diffraction
M. I. Richard
,
N. A. Katcho
,
M. G. Proietti
(1)
,
Hubert Renevier
(2)
,
V. Favre-Nicolin
(3, 4)
,
Z. Zhong
(5)
,
G. Chen
(6)
,
M. Stoffel
(7)
,
O. Schmidt
,
G. Renaud
(3)
,
T. U. Schülli
(3, 8)
,
G. Bauer
1
Departamento de Fisica de la Materia Condensada
2 LMGP - Laboratoire des matériaux et du génie physique
3 SP2M - UMR 9002 - Service de Physique des Matériaux et Microstructures
4 UJF - Université Joseph Fourier - Grenoble 1
5 Institut für Halbleiter und Festkörperphysik
6 NASA Headquarters
7 Laboratory of Dendrogeomorphology
8 ESRF - European Synchrotron Radiation Facility
2 LMGP - Laboratoire des matériaux et du génie physique
3 SP2M - UMR 9002 - Service de Physique des Matériaux et Microstructures
4 UJF - Université Joseph Fourier - Grenoble 1
5 Institut für Halbleiter und Festkörperphysik
6 NASA Headquarters
7 Laboratory of Dendrogeomorphology
8 ESRF - European Synchrotron Radiation Facility
M. I. Richard
- Fonction : Auteur
N. A. Katcho
- Fonction : Auteur
Hubert Renevier
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1087904
- IdHAL : hubert-renevier
- ORCID : 0000-0002-2317-9344
- IdRef : 061278920
Z. Zhong
- Fonction : Auteur
- PersonId : 755688
- ORCID : 0000-0003-0617-4418
O. Schmidt
- Fonction : Auteur
T. U. Schülli
- Fonction : Auteur
- PersonId : 948966
G. Bauer
- Fonction : Auteur
Résumé
no abstract