Article Dans Une Revue
Journal of Intelligent Manufacturing
Année : 2014
Marie Josèphe Perruet : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01063102
Soumis le : jeudi 11 septembre 2014-13:34:38
Dernière modification le : mardi 11 juin 2024-15:22:39
Citer
M'Hammed Sahnoun, Belgacem Bettayeb, Samuel Bassetto, Michel Tollenaere. Simulation-based optimization of sampling plans to reduce inspections while mastering the risk exposure in semiconductor manufacturing. Journal of Intelligent Manufacturing, 2014, ⟨10.1007/s10845-014-0956-x⟩. ⟨hal-01063102⟩
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