Study of Low-Frequency Noise in SOI Tri-gate Si Nanowire MOSFETs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Study of Low-Frequency Noise in SOI Tri-gate Si Nanowire MOSFETs

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01024536 , version 1 (16-07-2014)

Identifiants

Citer

M. Koyama, M. Cassé, R. Coquand, S. Barraud, G. Ghibaudo, et al.. Study of Low-Frequency Noise in SOI Tri-gate Si Nanowire MOSFETs. ICNF 2013 (Int. Conf. on Noise and Fluctuations), Jun 2013, Montpellier, France. pp.1-4, ⟨10.1109/ICNF.2013.6578950⟩. ⟨hal-01024536⟩
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