Communication Dans Un Congrès
Année : 2013
Brigitte Rasolofoniaina : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01024536
Soumis le : mercredi 16 juillet 2014-12:11:09
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-18:22:32
Citer
M. Koyama, M. Cassé, R. Coquand, S. Barraud, G. Ghibaudo, et al.. Study of Low-Frequency Noise in SOI Tri-gate Si Nanowire MOSFETs. ICNF 2013 (Int. Conf. on Noise and Fluctuations), Jun 2013, Montpellier, France. pp.1-4, ⟨10.1109/ICNF.2013.6578950⟩. ⟨hal-01024536⟩
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