Low-Temperature Transport Characteristics in SOI and sSOI Nanowires Down to 8nm Width: Evidence of Ids and Mobility Oscillations - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Low-Temperature Transport Characteristics in SOI and sSOI Nanowires Down to 8nm Width: Evidence of Ids and Mobility Oscillations

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://hal.science/hal-01020825

Soumis le : mardi 8 juillet 2014-15:36:49

Dernière modification le : mercredi 11 septembre 2024-10:52:53

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Dates et versions

hal-01020825 , version 1 (08-07-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01020825 , version 1

Citer

R. Coquand, S. Barraud, M. Cassé, M. Koyama, V. Maffini-Alvaro, et al.. Low-Temperature Transport Characteristics in SOI and sSOI Nanowires Down to 8nm Width: Evidence of Ids and Mobility Oscillations. 43rd European Solid-State Device Research Conference, Sep 2013, Bucarest, Romania. pp.198 - 201. ⟨hal-01020825⟩

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