Article Dans Une Revue
Thin Solid Films
Année : 2013
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https://hal.science/hal-01002229
Soumis le : jeudi 5 juin 2014-17:26:29
Dernière modification le : samedi 27 septembre 2025-19:21:50
Citer
S.J. Park, D.-Y. Jeon, S.-E. Ahn, S. Jeon, L. Montes, et al.. Static electrical characterization and low frequency noise of a-InHfZnO thin film transistors. Thin Solid Films, 2013, 548, pp.560-565. ⟨10.1016/j.tsf.2013.09.024⟩. ⟨hal-01002229⟩
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