New parameter extraction method based on split C-V measurements in FDSOI MOSFETs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Solid-State Electronics Année : 2013

New parameter extraction method based on split C-V measurements in FDSOI MOSFETs

Résumé

Vol. 84, pp., doi:(June 2013)

Dates et versions

hal-01002112 , version 1 (05-06-2014)

Identifiants

Citer

I. Ben Akkez, A. Cros, C. Fenouillet-Beranger, F. Boeuf, Q. Rafhay, et al.. New parameter extraction method based on split C-V measurements in FDSOI MOSFETs. Solid-State Electronics, 2013, 84, pp.142-146. ⟨10.1016/j.sse.2013.02.011⟩. ⟨hal-01002112⟩
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