New parameter extraction method based on split C-V measurements in FDSOI MOSFETs
Résumé
Vol. 84, pp., doi:(June 2013)
Brigitte Rasolofoniaina : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01002112
Soumis le : jeudi 5 juin 2014-15:47:43
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:20:22