Back biasing effects in tri-gate junctionless transistors - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Solid-State Electronics Année : 2013

Dates et versions

hal-01001960 , version 1 (05-06-2014)

Identifiants

Citer

S.J. Park, D.Y. Jeon, L. Montes, S. Barraud, G.T. Kim, et al.. Back biasing effects in tri-gate junctionless transistors. Solid-State Electronics, 2013, 87, pp.74-79. ⟨10.1016/j.sse.2013.06.004⟩. ⟨hal-01001960⟩
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