Caractérisation en température de semi-conducteurs et mise en oeuvre d'un thermomètre analogique - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2001

Caractérisation en température de semi-conducteurs et mise en oeuvre d'un thermomètre analogique

Résumé

Cet article présente une séance de travaux pratiques en licences EEA et IE sur le cours d'électronique analogique et de physique du composant. La séance se déroule en deux parties : la première consiste à l'étude et à l'étalonnage du thermomètre analogique associé au dispositif, la seconde à l'étude du comportement en température de deux composants à semi-conducteurs, une diode au silicium et une thermistance, afin d'en d'extraire certains paramètres physiques.
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00994996 , version 1 (22-05-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00994996 , version 1

Citer

Laurent Pichon, Régis Carin, Didier Robbes. Caractérisation en température de semi-conducteurs et mise en oeuvre d'un thermomètre analogique. CETSIS-EEA 2001, Oct 2001, Clermont-Ferrand, France. pp.273-276. ⟨hal-00994996⟩
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