Detailed Analysis of the Role of Thin-HfO2 Interfacial Layer in Ge2Sb2Te5-Based PCM
Résumé
Vol. 60, no.7, pp.2268-2275, doi: (July 2013)
Brigitte Rasolofoniaina : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00994450
Soumis le : mercredi 21 mai 2014-14:57:16
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:13