Communication Dans Un Congrès
Année : 2013
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https://hal.science/hal-00994411
Soumis le : mercredi 21 mai 2014-14:17:07
Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-16:20:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00994411 , version 1
Citer
Bogdan Cretu, Jean-Marc Routoure, Régis Carin, E. Simoen, C. Claeys. Low frequency noise as diagnostic tools in sub-22nm MOSFET transistors. Workshop " Oxydes Fonctionnels pour l'Intégration en Micro- et Nano-électronique ", Apr 2013, Autrans, France. ⟨hal-00994411⟩
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