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Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Low frequency noise as diagnostic tools in sub-22nm MOSFET transistors

Bogdan Cretu
Régis Carin
E. Simoen
  • Fonction : Auteur
C. Claeys
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00994411 , version 1 (21-05-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00994411 , version 1

Citer

Bogdan Cretu, Jean-Marc Routoure, Régis Carin, E. Simoen, C. Claeys. Low frequency noise as diagnostic tools in sub-22nm MOSFET transistors. Workshop " Oxydes Fonctionnels pour l'Intégration en Micro- et Nano-électronique ", Apr 2013, Autrans, France. ⟨hal-00994411⟩
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