Article Dans Une Revue
IEEE Electron Device Letters
Année : 2013
Brigitte Rasolofoniaina : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00994309
Soumis le : mercredi 21 mai 2014-12:06:09
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:13:53
Citer
Yong Xu, W. Scheideler, Chuan Liu, F. Balestra, K. Tsukagoshi. Contact thickness effects in bottom-contact coplanar organic field-effect transistors. IEEE Electron Device Letters, 2013, 34 (4), pp.535-7. ⟨10.1109/LED.2013.2244059⟩. ⟨hal-00994309⟩
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