Article Dans Une Revue
Electronics Letters
Année : 2013
Brigitte Rasolofoniaina : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00994288
Soumis le : mercredi 21 mai 2014-11:43:34
Dernière modification le : mercredi 11 septembre 2024-10:52:36
Citer
K. Bennamane, I. Ben Akkez, A. Cros, C. Fenouillet-Beranger, F. Balestra, et al.. Mobility coupling effects due to remote Coulomb scattering in thin-film FD-SOI CMOS devices. Electronics Letters, 2013, 49 (7), pp.490-491. ⟨10.1049/el.2012.4150⟩. ⟨hal-00994288⟩
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