Communication Dans Un Congrès
Année : 2013
Sylvie Garcia : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00988257
Soumis le : mercredi 7 mai 2014-16:45:50
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:39:39
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00988257 , version 1
Citer
Benoît Thollin, Laurent Dupont, Zoubir Khatir, Yvan Avenas, Jean-Christophe Crébier, et al.. Partial Thermal Impedance Measurement for Die Interconnection Characterization by a microsecond "Pulsed Heating Curve Technique. EPE'13 ECCE Europe, 2013, Lille, France. ⟨hal-00988257⟩
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