Electrical Conductance of Bolted Copper Joints for Cryogenic Applications - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Low Temperature Physics Année : 2014

Electrical Conductance of Bolted Copper Joints for Cryogenic Applications

Florent Blondelle
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 954093
Ahmad Sultan
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 954094
Eddy Collin
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 949578
Henri Godfrin
  • Fonction : Auteur correspondant
  • PersonId : 954095

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Résumé

We present the results of electric contact resistance measurements at low temperatures on copper-to-copper bolted joints. Our accurate and systematic data display a rather small dispersion, and maybe a useful tool for cryogenic applications like pulse-tubes, dilution refrigerators and nuclear refrigerators.
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hal-00961401 , version 1 (20-03-2014)
hal-00961401 , version 2 (24-03-2014)

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Citer

Florent Blondelle, Ahmad Sultan, Eddy Collin, Henri Godfrin. Electrical Conductance of Bolted Copper Joints for Cryogenic Applications. Journal of Low Temperature Physics, 2014, 175 (5), pp.877-887. ⟨10.1007/s10909-014-1142-4⟩. ⟨hal-00961401v2⟩

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