Communication Dans Un Congrès
Année : 2002
Katell Kervella : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00958688
Soumis le : jeudi 13 mars 2014-10:46:05
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:58
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00958688 , version 1
Citer
Laurent Pichon, A. Mercha, Jean-Marc Routoure, Régis Carin, Tayeb Mohammed-Brahim, et al.. Meyer-Neldel parameter as a figure of merit for quality of thin film transistor active layer. E-MRS 2002, Spring Meeting Poster, Jun 2002, Strasbourg, France. ⟨hal-00958688⟩
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