Conducted immunity of three Op-Amps using the DPI measurement technique and VHDL-AMS modeling - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Conducted immunity of three Op-Amps using the DPI measurement technique and VHDL-AMS modeling

Siham Hairoud
  • Fonction : Auteur
PACE
Tristan Dubois
PACE
Geneviève Duchamp
PACE
Angélique Tételin
  • Fonction : Auteur
PACE

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https://hal.science/hal-00938699

Soumis le : mercredi 29 janvier 2014-15:23:15

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Dates et versions

hal-00938699 , version 1 (29-01-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00938699 , version 1

Citer

Siham Hairoud, Tristan Dubois, Geneviève Duchamp, Angélique Tételin. Conducted immunity of three Op-Amps using the DPI measurement technique and VHDL-AMS modeling. EMC Compo 2013, Dec 2013, France. pp.xx-yy. ⟨hal-00938699⟩

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