Microscopie à Emission d'Electrons Balistiques (BEEM): sonde locale des propriétés électroniques d'interfaces enterrées - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Microscopie à Emission d'Electrons Balistiques (BEEM): sonde locale des propriétés électroniques d'interfaces enterrées

Sophie Guézo
Pascal Turban
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 896
  • IdHAL : pturban
Francine Solal
Sylvain Tricot
Bruno Lépine
Gabriel Delhaye
Philippe Schieffer
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00934019 , version 1 (21-01-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00934019 , version 1

Citer

Sophie Guézo, Pascal Turban, Francine Solal, Soraya Ababou-Girard, Sylvain Tricot, et al.. Microscopie à Emission d'Electrons Balistiques (BEEM): sonde locale des propriétés électroniques d'interfaces enterrées. 13èmes journées de la matière condensée, JMC13, Aug 2012, Montpellier, France. ⟨hal-00934019⟩
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