Reliatibility Oriented Process and Device Simulations of Power VDMOS transistors in Bipolar/CMOS/DMOS technology - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2003

Reliatibility Oriented Process and Device Simulations of Power VDMOS transistors in Bipolar/CMOS/DMOS technology

Y. Rey-Tauriac
  • Fonction : Auteur
M. Taurin
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00917929 , version 1 (12-12-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00917929 , version 1

Citer

Y. Rey-Tauriac, M. Taurin, Hervé Lhermite, Olivier Bonnaud. Reliatibility Oriented Process and Device Simulations of Power VDMOS transistors in Bipolar/CMOS/DMOS technology. Proceedings of 10th IEEE IPFA Conference, Jul 2003, Singapour, Singapore. pp.29-35. ⟨hal-00917929⟩
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