Communication Dans Un Congrès
Année : 2003
Katell Kervella : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00917929
Soumis le : jeudi 12 décembre 2013-16:25:45
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:58
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00917929 , version 1
Citer
Y. Rey-Tauriac, M. Taurin, Hervé Lhermite, Olivier Bonnaud. Reliatibility Oriented Process and Device Simulations of Power VDMOS transistors in Bipolar/CMOS/DMOS technology. Proceedings of 10th IEEE IPFA Conference, Jul 2003, Singapour, Singapore. pp.29-35. ⟨hal-00917929⟩
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