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Communication Dans Un Congrès Année : 2003

Dynamic electrical characterization of CMOS-like thin film transistor circuits

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00916737 , version 1 (10-12-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00916737 , version 1

Citer

G. Gautier, Samuel Crand, Olivier Bonnaud. Dynamic electrical characterization of CMOS-like thin film transistor circuits. Microelectronics Systems Education Conference (MSE), Jun 2003, Anaheim, United States. ⟨hal-00916737⟩
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