Reliability of TFTs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2003

Reliability of TFTs

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00913288 , version 1 (03-12-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00913288 , version 1

Citer

H. Toutah, Jean-François Llibre, Tayeb Mohammed-Brahim, Olivier Bonnaud. Reliability of TFTs. Microelectronics Reliability, 2003, 43, pp.1531-1535. ⟨hal-00913288⟩
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