Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2003
Katell Kervella : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00913288
Soumis le : mardi 3 décembre 2013-14:48:15
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00913288 , version 1
Citer
H. Toutah, Jean-François Llibre, Tayeb Mohammed-Brahim, Olivier Bonnaud. Reliability of TFTs. Microelectronics Reliability, 2003, 43, pp.1531-1535. ⟨hal-00913288⟩
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