Article Dans Une Revue
Thin Solid Films
Année : 2003
Katell Kervella : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00913090
Soumis le : mardi 3 décembre 2013-11:22:52
Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-16:20:04
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00913090 , version 1
Citer
Laurent Pichon, A. Mercha, Jean-Marc Routoure, Régis Carin, Tayeb Mohammed-Brahim, et al.. Meyer-Neldel parameter as a figure of merit for quality of thin film transistor active layer?. Thin Solid Films, 2003, 427, pp.350-354. ⟨hal-00913090⟩
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