Meyer-Neldel parameter as a figure of merit for quality of thin film transistor active layer? - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2003

Meyer-Neldel parameter as a figure of merit for quality of thin film transistor active layer?

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00913090 , version 1 (03-12-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00913090 , version 1

Citer

Laurent Pichon, A. Mercha, Jean-Marc Routoure, Régis Carin, Tayeb Mohammed-Brahim, et al.. Meyer-Neldel parameter as a figure of merit for quality of thin film transistor active layer?. Thin Solid Films, 2003, 427, pp.350-354. ⟨hal-00913090⟩
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