Behavior of polysilicon thin film transistors at different temperatures - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Solid State Phenomena Année : 2003
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00913028 , version 1 (03-12-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00913028 , version 1

Citer

Jean-François Llibre, H. Toutah, B. Tala-Highil, B. Boudard, Tayeb Mohammed-Brahim, et al.. Behavior of polysilicon thin film transistors at different temperatures. Solid State Phenomena, 2003, 93, pp.67-72. ⟨hal-00913028⟩
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