Electrical responses of microcrystalline silicon TFTs to mechanical stresses - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00905385 , version 1 (18-11-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00905385 , version 1

Citer

Sabri Janfaoui, Khalid Kandoussi, Claude Simon, Nathalie . Coulon, Samuel Crand, et al.. Electrical responses of microcrystalline silicon TFTs to mechanical stresses. China Display - Asia Display Conference, Nov 2011, Kunshan, China. ⟨hal-00905385⟩
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