Irradiation damage tests on backside-illuminated CMOS APS prototypes for the extreme ultraviolet imager on-board solar orbiter - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2013

Irradiation damage tests on backside-illuminated CMOS APS prototypes for the extreme ultraviolet imager on-board solar orbiter

A. Benmoussa
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S. Gissot
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B. Giordanengo
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G. Meynants
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X. Wang
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B. Wolfs
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J. Bogaerts
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U. Schuhle
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G. Berger
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A. Gottwald
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C. Laubis
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U. Kroth
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F. Scholze
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T. Saito
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00877648 , version 1 (29-10-2013)

Identifiants

Citer

A. Benmoussa, S. Gissot, B. Giordanengo, G. Meynants, X. Wang, et al.. Irradiation damage tests on backside-illuminated CMOS APS prototypes for the extreme ultraviolet imager on-board solar orbiter. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2013, 60, pp.3907-3914. ⟨10.1109/TNS.2013.2279550⟩. ⟨hal-00877648⟩
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