Caractérisation in-situ de dépôts formés en filtration membranaire par potentiel d'écoulement - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00824922 , version 1 (22-05-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00824922 , version 1

Citer

Y. Lanteri, P. Fievet, C. Magnenet, Anthony Szymczyk. Caractérisation in-situ de dépôts formés en filtration membranaire par potentiel d'écoulement. XIIIème congrès de la SFGP - Récents Progrès en Génie des Procédés, Nov 2011, Lille, France. pp.131-137. ⟨hal-00824922⟩
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