Electrode size effect under PFM characterization of PZT-film on silicon structures with micro- and nanometric top electrodes - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Electrode size effect under PFM characterization of PZT-film on silicon structures with micro- and nanometric top electrodes

S.L. Bravina
  • Fonction : Auteur
N.V. Morozovsky
  • Fonction : Auteur
E.A. Eliseev
  • Fonction : Auteur
A.N. Morozovska
  • Fonction : Auteur
J. Costecalde
  • Fonction : Auteur
Caroline Soyer
Denis Remiens
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00800402 , version 1 (13-03-2013)

Identifiants

Citer

S.L. Bravina, N.V. Morozovsky, E.A. Eliseev, A.N. Morozovska, J. Costecalde, et al.. Electrode size effect under PFM characterization of PZT-film on silicon structures with micro- and nanometric top electrodes. Joint 20th IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics and 2011 International Symposium on Piezoresponse Force Microscopy and Nanoscale Phenomena in Polar Materials, ISAF-PFM-2011, 2011, Vancouver, Canada. pp.1-3, ⟨10.1109/ISAF.2011.6014002⟩. ⟨hal-00800402⟩
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