Communication Dans Un Congrès
Année : 2011
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https://hal.science/hal-00800402
Soumis le : mercredi 13 mars 2013-16:22:58
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
S.L. Bravina, N.V. Morozovsky, E.A. Eliseev, A.N. Morozovska, J. Costecalde, et al.. Electrode size effect under PFM characterization of PZT-film on silicon structures with micro- and nanometric top electrodes. Joint 20th IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics and 2011 International Symposium on Piezoresponse Force Microscopy and Nanoscale Phenomena in Polar Materials, ISAF-PFM-2011, 2011, Vancouver, Canada. pp.1-3, ⟨10.1109/ISAF.2011.6014002⟩. ⟨hal-00800402⟩
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