Autre Publication Scientifique Année : 2012

Mise en oeuvre d'un banc de caractérisation non linéaire dans le domaine fréquentiel pour l'analyse de transistors HBT SiGe

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00799323 , version 1 (12-03-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00799323 , version 1

Citer

Rezki Ouhachi. Mise en oeuvre d'un banc de caractérisation non linéaire dans le domaine fréquentiel pour l'analyse de transistors HBT SiGe. 2012. ⟨hal-00799323⟩
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