High temperature effects on harmonic distortion in submicron SOI graded-channel MOSFETs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Advanced Materials Research Année : 2011

High temperature effects on harmonic distortion in submicron SOI graded-channel MOSFETs

M. Emam
  • Fonction : Auteur
M.A. Pavanello
  • Fonction : Auteur
D. Vanhoenacker-Janvier
  • Fonction : Auteur
J.P. Raskin
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00795910 , version 1 (01-03-2013)

Identifiants

Citer

M. Emam, M.A. Pavanello, Francois Danneville, D. Vanhoenacker-Janvier, J.P. Raskin. High temperature effects on harmonic distortion in submicron SOI graded-channel MOSFETs. Advanced Materials Research, 2011, 276, pp.67-76. ⟨10.4028/www.scientific.net/AMR.276.67⟩. ⟨hal-00795910⟩
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