Article Dans Une Revue
Advanced Materials Research
Année : 2011
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https://hal.science/hal-00795910
Soumis le : vendredi 1 mars 2013-10:38:39
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00795910 , version 1
- DOI : 10.4028/www.scientific.net/AMR.276.67
Citer
M. Emam, M.A. Pavanello, Francois Danneville, D. Vanhoenacker-Janvier, J.P. Raskin. High temperature effects on harmonic distortion in submicron SOI graded-channel MOSFETs. Advanced Materials Research, 2011, 276, pp.67-76. ⟨10.4028/www.scientific.net/AMR.276.67⟩. ⟨hal-00795910⟩
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