Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2012

Comparative study of erbium disilicide thin films grown in situ under ultrahigh vacuum or ex situ with a capping layer

Fichier principal
Vignette du fichier
2012-Reckinger-Thin-Solid-Films-Erbium-Disilicide-hal.pdf (839.76 Ko) Télécharger le fichier
Origine Fichiers produits par l'(les) auteur(s)
Licence

Dates et versions

hal-00787381 , version 1 (17-09-2024)

Licence

Identifiants

Citer

N. Reckinger, C.A. Dutu, Xing Tang, Emmanuel Dubois, Dmitri Yarekha, et al.. Comparative study of erbium disilicide thin films grown in situ under ultrahigh vacuum or ex situ with a capping layer. Thin Solid Films, 2012, 520, pp.4501-4505. ⟨10.1016/j.tsf.2012.02.076⟩. ⟨hal-00787381⟩
83 Consultations
85 Téléchargements

Altmetric

Partager

  • More