Prise en compte des incertitudes sur les données de captage pour le diagnostic - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Autre Publication Scientifique Année : 2011

Prise en compte des incertitudes sur les données de captage pour le diagnostic

Éric Zamaï
K.-Q. Tran-Dinh
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 936493

Résumé

L'industrie du semi-conducteur est considérée comme particulièrement sensible aux aléas et aux contraintes de fonctionnement et la recherche permanente d'une production à capacité maximale est l'un des principaux objectifs de ce secteur, ceci afin d'assurer un retour sur investissement sur des machines très onéreuses. Parmi les incertitudes telles que celles liées au flux de produit, aux contaminations, aux opérateurs humains, à la cohabitation prototypage R&D et production, etc..., nous avons souhaité, dans le cadre de cette thèse, nous focaliser sur celles liées au système de captage du site de production. La contribution de nos travaux réside précisément dans la proposition d'une approche globale de diagnostic permettant de mener des inférences non seulement sur le calcul de la confiance qui peut être accordée aux informations issues du système de captage mais également des inférences permettant, lors de l'occurrence d'une défaillance détectée par une machine de métrologie de localiser, avec précision, la ou les machines à l'origine possible du défaut. L'approche générale retenue et l'originalité qui en découle revient à intégrer un raisonnement Bayésien au sein d'une approche de diagnostic logique. L'approche développée prend pour cadre d'étude un procédé industriel réel, les ateliers de production de semiconducteurs du projet Européen IMPROVE. L'approche vise ainsi à apporter des améliorations dans le traitement des défaillances et donc dans l'amélioration des performances de ces ateliers en permettant de réduire les temps de prise de décision (maintenances correctives). La suite des recherches va nous permettre dans un premier temps d'appliquer les premiers résultats obtenus sur des données concrètes. Dans un deuxième temps, nous nous proposons d'étendre le modèle Bayésien à ce jour retenu aux aspects dynamiques afin de tenir compte de l'impact de la chronologie des événements. Après quoi nous étendrons l'algorithme de diagnostic initialement proposé par M. Deschamps de manière à ce qu'il puisse intégrer le raisonnement Bayésien.
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00784865 , version 1 (04-02-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00784865 , version 1

Citer

Quoc Bao Duong, Éric Zamaï, K.-Q. Tran-Dinh. Prise en compte des incertitudes sur les données de captage pour le diagnostic. 2011, poster et présentation N°36. ⟨hal-00784865⟩
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