A simplified and meaningful crack propagation model in silicon for microelectronic power devices - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

A simplified and meaningful crack propagation model in silicon for microelectronic power devices

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Electronique

Isabelle Bord  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00766150

Soumis le : lundi 17 décembre 2012-16:54:54

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00766150 , version 1 (17-12-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00766150 , version 1

Citer

Damien Calvez, Fabrice Roqueta, Sébastien Jacques, Samuel Ducret, Laurent Bechou, et al.. A simplified and meaningful crack propagation model in silicon for microelectronic power devices. 13th IEEE EUROSimE 2012, Apr 2012, Lisbon, Portugal. pp.10.1109/ESimE.2012.6191721. ⟨hal-00766150⟩

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