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Communication Dans Un Congrès Année : 2012

A simplified and meaningful crack propagation model in silicon for microelectronic power devices

Domaines

Electronique
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00766150 , version 1 (17-12-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00766150 , version 1

Citer

Damien Calvez, Fabrice Roqueta, Sébastien Jacques, Samuel Ducret, Laurent Bechou, et al.. A simplified and meaningful crack propagation model in silicon for microelectronic power devices. 13th IEEE EUROSimE 2012, Apr 2012, Lisbon, Portugal. pp.10.1109/ESimE.2012.6191721. ⟨hal-00766150⟩
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