Failure Mechanisms in Packaged Light-Emitting Diodes Under Gamma Radiations: Piezoelectric Model Based on Stark Effect - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Device and Materials Reliability Année : 2011

Failure Mechanisms in Packaged Light-Emitting Diodes Under Gamma Radiations: Piezoelectric Model Based on Stark Effect

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Electronique

Isabelle Bord  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00673553

Soumis le : jeudi 23 février 2012-17:32:55

Dernière modification le : lundi 11 septembre 2023-16:36:51

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00673553 , version 1 (23-02-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00673553 , version 1

Citer

Y. Deshayes, R. Baillot, O. Rehioui, L. Béchou, O. Gilard, et al.. Failure Mechanisms in Packaged Light-Emitting Diodes Under Gamma Radiations: Piezoelectric Model Based on Stark Effect. IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2011, 11 (issue 2), pp.303-311. ⟨hal-00673553⟩

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