Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2011
Genevieve Duchamp : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00671604
Soumis le : vendredi 17 février 2012-19:14:24
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00671604 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2011.07.053
Citer
Jean-Baptiste Gros, Geneviève Duchamp, Jean-Luc Levant, Christian Marot. Control of the Electromagnetic compatibility : an issue for IC reliability. Microelectronics Reliability, 2011, 51, pp.1493-1497. ⟨10.1016/j.microrel.2011.07.053⟩. ⟨hal-00671604⟩
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