Article Dans Une Revue Electronics Letters Année : 2007

Characterization of the Electromagnetic Susceptibility of Integrated Circuits using a Near Field Scan

Résumé

The paper describes a susceptibility characterization test for integrated circuits using a miniature magnetic near field probe. The method is efficient up to a frequency of 6 GHz and maps immunity to radiated fields.

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hal-00669747 , version 1 (13-02-2012)

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  • HAL Id : hal-00669747 , version 1

Citer

Alexandre Boyer, Sonia Ben Dhia, Etienne Sicard. Characterization of the Electromagnetic Susceptibility of Integrated Circuits using a Near Field Scan. Electronics Letters, 2007, 43 (1), pp.15. ⟨hal-00669747⟩
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