Recent advances in Transmission Electron Microscopy illustrated by an application to atomic scale characterization of nanoscale precipitation - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Recent advances in Transmission Electron Microscopy illustrated by an application to atomic scale characterization of nanoscale precipitation

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Yannick Champion  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00610638

Soumis le : vendredi 22 juillet 2011-18:19:39

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-09:51:29

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00610638 , version 1 (22-07-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00610638 , version 1

Citer

P. Donnadieu, Y. Shao, G. Botton, S. Lazar, M. Cheynet, et al.. Recent advances in Transmission Electron Microscopy illustrated by an application to atomic scale characterization of nanoscale precipitation. PTM2010 - International Conference on Solid-Solid Phase Transformations, 2010, AVIGNON, France. ⟨hal-00610638⟩

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