Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
Yannick Champion : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00609349
Soumis le : lundi 18 juillet 2011-18:58:31
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:13
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00609349 , version 1
Citer
R. Galand, L. Clément, P. Waltz, Y. Wouters. Microstructure and texture analysis of advandced copper interconnects using Electron Backscattered Difraction and Scanning Transmission Electron Microscopy. SPIE Scanning Microscopy 2010, May 2010, MONTEREY, Californie, United States. ⟨hal-00609349⟩
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