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Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Effect of Reservoir on Electromigration of Short Interconnects

P. Lamontagne
  • Fonction : Auteur
D. Ney
  • Fonction : Auteur

Domaines

Matériaux
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00609348 , version 1 (18-07-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00609348 , version 1

Citer

P. Lamontagne, D. Ney, Y. Wouters. Effect of Reservoir on Electromigration of Short Interconnects. IEEE International Integrated Reliability Workshop, IEEE Conference, Oct 2010, South Lake Tahoe, United States. ⟨hal-00609348⟩
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