Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
Yannick Champion : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00609348
Soumis le : lundi 18 juillet 2011-18:55:23
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:13
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00609348 , version 1
Citer
P. Lamontagne, D. Ney, Y. Wouters. Effect of Reservoir on Electromigration of Short Interconnects. IEEE International Integrated Reliability Workshop, IEEE Conference, Oct 2010, South Lake Tahoe, United States. ⟨hal-00609348⟩
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