Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00604290
Soumis le : mardi 28 juin 2011-15:52:51
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:05:08
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00604290 , version 1
Citer
J. W. Lee, D. Jang, M. Mouis, G. T. Kim, T. Chiarella, et al.. Experimental Analysis of Surface Roughness Scattering in FinFET. 40th European Solid-State Device Research Conference,, Sep 2010, Sevilla, Spain. pp.305-308. ⟨hal-00604290⟩
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