Mismatch Measure Improvement Using Kelvin Test Structures in Transistor Pair Configuration in Sub-Hundred Nanometer MOSFET Technology - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00603793 , version 1 (27-06-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00603793 , version 1

Citer

C. M. Mezzomo, M. Marin, C. Leyris, G. Ghibaudo. Mismatch Measure Improvement Using Kelvin Test Structures in Transistor Pair Configuration in Sub-Hundred Nanometer MOSFET Technology. IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, Apr 2009, Oxnard, United States. pp.62-67. ⟨hal-00603793⟩
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