Structural and electrical characterizations of nanometer scaled aluminum oxide in metal / insulator / silicon (100) heterostructures - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Global Journal of Physical Chemistry Année : 2011

Structural and electrical characterizations of nanometer scaled aluminum oxide in metal / insulator / silicon (100) heterostructures

N. Rochdi
  • Fonction : Auteur
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
Mahfoudh Raïssi
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 958152
S. Vizzini
C. Coudreau
  • Fonction : Auteur
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
J.-L. Lazzari
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
CV
B. Aufray
  • Fonction : Auteur
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille
H. Oughaddou
CV
F. Arnaud d'Avitaya
  • Fonction : Auteur
Centre Interdisciplinaire de Nanoscience de Marseille

Hal Cinam  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00603274

Soumis le : vendredi 24 juin 2011-15:18:19

Dernière modification le : mercredi 31 janvier 2024-16:47:56

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00603274 , version 1 (24-06-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00603274 , version 1

Citer

N. Rochdi, Mahfoudh Raïssi, S. Vizzini, C. Coudreau, J.-L. Lazzari, et al.. Structural and electrical characterizations of nanometer scaled aluminum oxide in metal / insulator / silicon (100) heterostructures. Global Journal of Physical Chemistry, 2011, 2 (2), pp.230-235. ⟨hal-00603274⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS UNIV-AMU CINAM
33 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More