Article Dans Une Revue
Electronics Letters
Année : 2009
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00596070
Soumis le : jeudi 26 mai 2011-14:23:53
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:40:35
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00596070 , version 1
Citer
K. Bennamane, G. Ghibaudo, A. Benfdila. Method for extraction of parameter characterizing µeff vs Eeff curves in FD-SOI Si MOS devices. Electronics Letters, 2009, 45 (12), pp.655-657. ⟨hal-00596070⟩
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