Method for extraction of  parameter characterizing µeff vs Eeff curves in FD-SOI Si MOS devices - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Electronics Letters Année : 2009
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00596070 , version 1 (26-05-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00596070 , version 1

Citer

K. Bennamane, G. Ghibaudo, A. Benfdila. Method for extraction of  parameter characterizing µeff vs Eeff curves in FD-SOI Si MOS devices. Electronics Letters, 2009, 45 (12), pp.655-657. ⟨hal-00596070⟩
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