UV emission microscopy development for high band gap components - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00585086 , version 1 (11-04-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00585086 , version 1

Citer

Moshine Bouya, D. Carisetti, Nathalie Malbert, Nathalie Labat, Philippe Perdu, et al.. UV emission microscopy development for high band gap components. 34th International Symposium for Testing and Failure Analysis, Nov 2009, San Jose, United States. pp.283-288. ⟨hal-00585086⟩
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